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激光非球面透鏡光路設計 非球面激光系統方案設計
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激(ji)光(guang)非(fei)球面(mian)透鏡光(guang)路設計 非(fei)球面(mian)激(ji)光(guang)系統方案設計

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    激光(guang)(guang)(guang)非(fei)球(qiu)面(mian)透鏡光(guang)(guang)(guang)路設(she)計就是根(gen)據客(ke)戶(hu)使(shi)用條(tiao)件,來(lai)決定(ding)滿足(zu)使(shi)用要求的(de)各(ge)種方案,即光(guang)(guang)(guang)學(xue)系統的(de)結構形式、性能參數、外(wai)形尺寸等。我們可以為客(ke)戶(hu)提供獨特(te)的(de)、專業(ye)的(de)、批量化定(ding)制光(guang)(guang)(guang)學(xue)系統設(she)計。

    光學設計(ji)過(guo)程分(fen)為四個個階段:外形尺(chi)寸計(ji)算、初(chu)始結構計(ji)算、象差校正(zheng)和平衡以及象質評價。

一、外形尺寸計算

    設(she)(she)計(ji)擬定(ding)出光學系統原理圖,確定(ding)基本(ben)光學特性,使滿足給定(ding)的技(ji)術要(yao)(yao)(yao)求,即確定(ding)放大倍(bei)率或(huo)焦距、線視場或(huo)角(jiao)視視場、數值孔徑或(huo)相對孔徑、共軛距、后工(gong)作距離光闌(lan)位(wei)置和外(wai)形尺寸等。在計(ji)算時一定(ding)要(yao)(yao)(yao)考(kao)慮機械結構和電氣系統,以防止在機構結構上無法(fa)實現。每項 性能(neng)的確定(ding)一定(ding)要(yao)(yao)(yao)合理,過(guo)高要(yao)(yao)(yao)求會使設(she)(she)計(ji)結果復雜(za)造(zao)成浪(lang)費,過(guo)低要(yao)(yao)(yao)求會使設(she)(she)計(ji)不符(fu)合要(yao)(yao)(yao)求。

二、初始結構的計算(suan)和選擇

初始結構的確定常用(yong)以(yi)下兩種方(fang)法:

    1.根據初級(ji)象差(cha)理論求(qiu)解(jie)初始結構

    2.從已有的資料中選擇(ze)初(chu)始結(jie)構

    這是一種(zhong)比較實用又(you)容易獲(huo)(huo)得(de)成(cheng)功(gong)的(de)(de)方法。但其要(yao)求設(she)計(ji)者對(dui)光學理論有(you)深刻了解,并(bing)有(you)豐(feng)富的(de)(de)設(she)計(ji)經(jing)驗,只有(you)這樣才能(neng)從(cong)類型繁多的(de)(de)結構中挑選(xuan)出簡(jian)單(dan)而又(you)合乎要(yao)求的(de)(de)初始結構。一個不好的(de)(de)初始結構,再好的(de)(de)自(zi)動設(she)計(ji)程序和有(you)經(jing)驗的(de)(de)設(she)計(ji)者也無法使設(she)計(ji)獲(huo)(huo)得(de)成(cheng)功(gong)。

三、象差校正和平衡

    初始(shi)結構(gou)選好(hao)后(hou),要(yao)在(zai)計算機上(shang)用ZEMAX、CODEⅤ等(deng)軟件(jian)對光(guang)學系(xi)統(tong)進行(xing)(xing)分(fen)(fen)(fen)析(xi)和光(guang)路(lu)追跡,算出(chu)全部象差(cha)及(ji)各種象差(cha)曲(qu)線。從象差(cha)數據分(fen)(fen)(fen)析(xi)就(jiu)可以找出(chu)主(zhu)要(yao)是(shi)哪些象差(cha)影響光(guang)學系(xi)統(tong)的(de)成(cheng)象質(zhi)量,從而(er)找出(chu)改進的(de)辦法,開(kai)始(shi)進行(xing)(xing)象差(cha)校(xiao)正。象差(cha)分(fen)(fen)(fen)析(xi)及(ji)平衡是(shi)一個(ge)反(fan)復進行(xing)(xing)的(de)過程,直到滿足成(cheng)象質(zhi)量要(yao)求為止。


四、象(xiang)質(zhi)評(ping)價

    光(guang)(guang)(guang)(guang)學系(xi)(xi)(xi)統的(de)(de)(de)(de)成象(xiang)質(zhi)(zhi)(zhi)量(liang)與象(xiang)差的(de)(de)(de)(de)大(da)小有(you)(you)關(guan),光(guang)(guang)(guang)(guang)學設(she)計的(de)(de)(de)(de)目的(de)(de)(de)(de)就是(shi)要對光(guang)(guang)(guang)(guang)學系(xi)(xi)(xi)統的(de)(de)(de)(de)象(xiang)差給予校(xiao)正(zheng)。但是(shi)任何(he)光(guang)(guang)(guang)(guang)學系(xi)(xi)(xi)統都不可(ke)能也(ye)沒有(you)(you)必(bi)要把(ba)所(suo)(suo)有(you)(you)象(xiang)差都校(xiao)正(zheng)到零,必(bi)然有(you)(you)剩(sheng)(sheng)余(yu)(yu)象(xiang)差的(de)(de)(de)(de)存在,剩(sheng)(sheng)余(yu)(yu)象(xiang)差大(da)小不同,成象(xiang)質(zhi)(zhi)(zhi)量(liang)也(ye)就不同。因此光(guang)(guang)(guang)(guang)學設(she)計者必(bi)須(xu)對各(ge)種(zhong)光(guang)(guang)(guang)(guang)學系(xi)(xi)(xi)統的(de)(de)(de)(de)剩(sheng)(sheng)余(yu)(yu)象(xiang)差的(de)(de)(de)(de)允許值和象(xiang)差公差有(you)(you)所(suo)(suo)了(le)解,以便根(gen)據剩(sheng)(sheng)余(yu)(yu)象(xiang)差的(de)(de)(de)(de)大(da)小判斷光(guang)(guang)(guang)(guang)學系(xi)(xi)(xi)統的(de)(de)(de)(de)成象(xiang)質(zhi)(zhi)(zhi)量(liang)。評價光(guang)(guang)(guang)(guang)學系(xi)(xi)(xi)統的(de)(de)(de)(de)成象(xiang)質(zhi)(zhi)(zhi)量(liang)的(de)(de)(de)(de)方(fang)法很多,下(xia)面簡單介紹(shao)一下(xia)象(xiang)質(zhi)(zhi)(zhi)評價的(de)(de)(de)(de)方(fang)法。

1.瑞利判(pan)斷(duan)

    實際波面(mian)與理想波面(mian)之(zhi)間的最(zui)大波象(xiang)差(cha)不超(chao)過1/4 波長。其是一種較(jiao)為嚴(yan)格的象(xiang)質評價方法,適用于小象(xiang)差(cha)系(xi)統如:望遠鏡(jing)、顯微(wei)物鏡(jing)等。

2.光學傳遞函數MTF

    此方法是基于把物體看作是由各種頻(pin)率的(de)(de)(de)(de)譜組成的(de)(de)(de)(de)。把光(guang)(guang)(guang)(guang)學系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)看作是線性不(bu)變系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong),這樣,物體經光(guang)(guang)(guang)(guang)學系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)成象,可(ke)視為不(bu)同(tong)頻(pin)率的(de)(de)(de)(de)一(yi)系(xi)(xi)(xi)列(lie)正弦分布(bu)線性系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)的(de)(de)(de)(de)傳(chuan)(chuan)(chuan)遞。傳(chuan)(chuan)(chuan)遞的(de)(de)(de)(de)特點是頻(pin)率不(bu)變,但(dan)對比度下(xia)有(you)所下(xia)降。對比度的(de)(de)(de)(de)降低和位相(xiang)的(de)(de)(de)(de)推移隨頻(pin)率而異,它們之間的(de)(de)(de)(de)函(han)數(shu)關系(xi)(xi)(xi)稱(cheng)為光(guang)(guang)(guang)(guang)學傳(chuan)(chuan)(chuan)遞函(han)數(shu)。由于光(guang)(guang)(guang)(guang)學傳(chuan)(chuan)(chuan)遞函(han)數(shu)與象差有(you)關,故可(ke)用來評價光(guang)(guang)(guang)(guang)學系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)成象質量。它具有(you)客觀(guan)、可(ke)靠的(de)(de)(de)(de)優點,并(bing)且便于計算和測量,它不(bu)僅能用于光(guang)(guang)(guang)(guang)學設計結(jie)果的(de)(de)(de)(de)評價,還能控制光(guang)(guang)(guang)(guang)學系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)設計的(de)(de)(de)(de)過程、鏡頭檢驗、光(guang)(guang)(guang)(guang)學總(zong)體設計等(deng)各方面(mian)。

























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    激(ji)光非球面透鏡光路(lu)設(she)計(ji)就是(shi)根(gen)據客戶使用(yong)條(tiao)件,來決定(ding)滿足使用(yong)要求(qiu)的(de)各種方(fang)案(an),即光學系統的(de)結(jie)構形式、性能參數、外形尺寸等。我們(men)可以為客戶提供(gong)獨特的(de)、專業(ye)的(de)、批量化(hua)定(ding)制光學系統設(she)計(ji)。

    光學設(she)計(ji)過程分為(wei)四個個階段(duan):外形尺寸計(ji)算、初(chu)始結構計(ji)算、象差校正(zheng)和平衡以及(ji)象質評價。

一、外形尺寸計(ji)算

    設(she)計擬定(ding)出光學系(xi)統(tong)原(yuan)理圖,確(que)定(ding)基本光學特性(xing),使(shi)滿(man)足(zu)給定(ding)的技術要(yao)(yao)(yao)求,即確(que)定(ding)放大倍率(lv)或焦距(ju)、線視(shi)場或角視(shi)視(shi)場、數值孔徑或相(xiang)對孔徑、共軛(e)距(ju)、后工作距(ju)離光闌位置和外形(xing)尺寸等。在計算(suan)時一定(ding)要(yao)(yao)(yao)考慮機械(xie)結構(gou)和電氣系(xi)統(tong),以防(fang)止在機構(gou)結構(gou)上無法實(shi)現。每(mei)項 性(xing)能的確(que)定(ding)一定(ding)要(yao)(yao)(yao)合理,過(guo)(guo)高(gao)要(yao)(yao)(yao)求會使(shi)設(she)計結果復雜造成浪費,過(guo)(guo)低要(yao)(yao)(yao)求會使(shi)設(she)計不符合要(yao)(yao)(yao)求。

二、初始結(jie)構的(de)計算和選擇(ze)

初始(shi)結構的確定常用以下兩種(zhong)方法:

    1.根據(ju)初級象差(cha)理論(lun)求解初始結構

    2.從已(yi)有的資料中(zhong)選擇初始(shi)結(jie)構(gou)

    這是一種比較實用(yong)又容易獲得成功(gong)的(de)方法(fa)。但其要(yao)(yao)求設(she)(she)計(ji)者(zhe)對光學理論有(you)(you)深刻了(le)解,并有(you)(you)豐富(fu)的(de)設(she)(she)計(ji)經驗,只有(you)(you)這樣才(cai)能從類型繁多(duo)的(de)結構(gou)中挑選出簡單(dan)而又合乎要(yao)(yao)求的(de)初始(shi)結構(gou)。一個不(bu)好的(de)初始(shi)結構(gou),再(zai)好的(de)自動設(she)(she)計(ji)程(cheng)序(xu)和有(you)(you)經驗的(de)設(she)(she)計(ji)者(zhe)也無法(fa)使設(she)(she)計(ji)獲得成功(gong)。

三、象差校正和(he)平(ping)衡

    初(chu)始(shi)結構選好后,要在計算機(ji)上用ZEMAX、CODEⅤ等(deng)軟件對(dui)光學(xue)系(xi)統進(jin)行分析(xi)和光路追(zhui)跡,算出(chu)全部象(xiang)(xiang)差及各種(zhong)象(xiang)(xiang)差曲(qu)線。從象(xiang)(xiang)差數(shu)據分析(xi)就可以找(zhao)出(chu)主要是哪些(xie)象(xiang)(xiang)差影響(xiang)光學(xue)系(xi)統的(de)(de)(de)成象(xiang)(xiang)質量,從而找(zhao)出(chu)改(gai)進(jin)的(de)(de)(de)辦法,開始(shi)進(jin)行象(xiang)(xiang)差校正。象(xiang)(xiang)差分析(xi)及平(ping)衡是一個反復(fu)進(jin)行的(de)(de)(de)過程,直到滿(man)足成象(xiang)(xiang)質量要求為止(zhi)。


四(si)、象質評(ping)價

    光(guang)學(xue)系(xi)(xi)統的(de)(de)成象(xiang)(xiang)質量(liang)與象(xiang)(xiang)差(cha)(cha)的(de)(de)大小有關(guan),光(guang)學(xue)設計的(de)(de)目的(de)(de)就是要對光(guang)學(xue)系(xi)(xi)統的(de)(de)象(xiang)(xiang)差(cha)(cha)給予校正。但是任何光(guang)學(xue)系(xi)(xi)統都(dou)不(bu)可能(neng)也沒(mei)有必要把(ba)所(suo)有象(xiang)(xiang)差(cha)(cha)都(dou)校正到零,必然有剩(sheng)(sheng)(sheng)余(yu)象(xiang)(xiang)差(cha)(cha)的(de)(de)存在,剩(sheng)(sheng)(sheng)余(yu)象(xiang)(xiang)差(cha)(cha)大小不(bu)同(tong),成象(xiang)(xiang)質量(liang)也就不(bu)同(tong)。因(yin)此光(guang)學(xue)設計者必須(xu)對各種(zhong)光(guang)學(xue)系(xi)(xi)統的(de)(de)剩(sheng)(sheng)(sheng)余(yu)象(xiang)(xiang)差(cha)(cha)的(de)(de)允許值和(he)象(xiang)(xiang)差(cha)(cha)公差(cha)(cha)有所(suo)了(le)解(jie),以便(bian)根據剩(sheng)(sheng)(sheng)余(yu)象(xiang)(xiang)差(cha)(cha)的(de)(de)大小判斷光(guang)學(xue)系(xi)(xi)統的(de)(de)成象(xiang)(xiang)質量(liang)。評價(jia)光(guang)學(xue)系(xi)(xi)統的(de)(de)成象(xiang)(xiang)質量(liang)的(de)(de)方法(fa)很多,下(xia)面簡單(dan)介紹一下(xia)象(xiang)(xiang)質評價(jia)的(de)(de)方法(fa)。

1.瑞利(li)判斷(duan)

    實際波(bo)(bo)面與理想波(bo)(bo)面之間(jian)的最大波(bo)(bo)象(xiang)差不超過1/4 波(bo)(bo)長。其是(shi)一種較為嚴格的象(xiang)質評(ping)價(jia)方(fang)法,適用于小象(xiang)差系統如:望(wang)遠鏡、顯微物(wu)鏡等(deng)。

2.光學傳遞(di)函數(shu)MTF

    此方(fang)法是(shi)(shi)基于(yu)把物體看(kan)(kan)作是(shi)(shi)由(you)各種頻(pin)(pin)率(lv)(lv)的(de)譜組成的(de)。把光(guang)學(xue)(xue)系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)看(kan)(kan)作是(shi)(shi)線(xian)(xian)性不變系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong),這樣,物體經光(guang)學(xue)(xue)系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)成象(xiang),可視為(wei)不同頻(pin)(pin)率(lv)(lv)的(de)一系(xi)(xi)列正弦(xian)分布(bu)線(xian)(xian)性系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)的(de)傳遞。傳遞的(de)特點(dian)(dian)是(shi)(shi)頻(pin)(pin)率(lv)(lv)不變,但對比度下(xia)有所下(xia)降。對比度的(de)降低和(he)位相的(de)推移隨頻(pin)(pin)率(lv)(lv)而異,它(ta)(ta)們之間(jian)的(de)函數關(guan)系(xi)(xi)稱為(wei)光(guang)學(xue)(xue)傳遞函數。由(you)于(yu)光(guang)學(xue)(xue)傳遞函數與象(xiang)差(cha)有關(guan),故可用來評價光(guang)學(xue)(xue)系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)成象(xiang)質量(liang)。它(ta)(ta)具有客觀、可靠的(de)優點(dian)(dian),并且便于(yu)計算和(he)測量(liang),它(ta)(ta)不僅能用于(yu)光(guang)學(xue)(xue)設計結果的(de)評價,還能控制光(guang)學(xue)(xue)系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)設計的(de)過程、鏡頭檢驗、光(guang)學(xue)(xue)總(zong)體設計等各方(fang)面。

























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